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名称 機関 メーカー 共用範囲
GD-Profiler2-MN
グロー放電発光表面分析装置
名古屋工業大学
産学官金連携機構
堀場製作所
学内学外とも共用
ゼーターサイザーZS
ゼータ電位・粒子径測定装置
名古屋工業大学
産学官金連携機構
Malvern
学内学外とも共用
HMS-3000
ホール効果測定システム
名古屋工業大学
産学官金連携機構
Ecopia社
学内のみ
BELSORP-max
高精度ガス/蒸気吸着量測定装置 (Surface Area and Pore Size Distribution Analyzer)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本ベル (MicrotracBEL)
学内学外とも共用
アルファーステップ IQZ
表面形状測定器(段差計) (Stylus profiler)
豊田工業大学
KLAテンコール (KLA-Tencor)
学内学外とも共用
NewView 7300
非接触3次元表面形状・粗さ測定機 (White-light interferometer)
豊田工業大学
ザイゴ (Zygo)
学内学外とも共用
VR-6200
三次元形状測定機 (3D shape measuring machine)
豊田工業大学
キーエンス
学内学外とも共用
ELSZ-2Plus
ゼータ電位・粒径測定システム (Zeta Potential & Particle Size Analyzer)
京都大学
大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
学内学外とも共用
DLS-8000DH
ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Light Scattering Spectrophotometer)
京都大学
大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
学内学外とも共用
MSA-500-TPM2-20-D
マイクロシステムアナライザ (Micro System Analyzer)
京都大学
ポリテックジャパン(株) (Polytec)
学内学外とも共用
Dektak150
触針式段差計(CR) (Stylus Profilometer)
京都大学
Veeco社 (株)アルバック (Veeco Instruments Inc. ULVAC, Inc.)
学内学外とも共用
Dektak150
触針式段差計(加工評価室) (Stylus Profilometer)
京都大学
Veeco社 (株)アルバック (Veeco Instruments Inc. ULVAC, Inc.)
学内学外とも共用
Zeta-388
ウエハプロファイラ (Optical Wafer Profiler)
京都大学
ケーエルエー・テンコール(株) (KLA Corporation)
学内学外とも共用
DLS-6000
ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Laser Scattering Spectrometer)
奈良先端科学技術大学院大学
大塚電子 (Otsuka Electoronics)
学内学外とも共用
CEP-2000RP
分光感度・内部量子効率測定装置 (Solar Simulator)
奈良先端科学技術大学院大学
分光計器 (BUNKOUKEIKI)
学内学外とも共用
ET200
微細形状測定装置 (Microfigure Measurering Instrument)
奈良先端科学技術大学院大学
小坂製作所 (Kosaka)
学内学外とも共用
NANO-ZS
ナノ粒子解析装置(ゼーターサイザー) (Zetasizer)
大阪大学
シスメックス株式会社(マルバーン) (SYSMEX CORPORATION (Malvern))
学内学外とも共用
DektakXT
接触式膜厚測定器 (Stylus Profiler)
大阪大学
ブルカージャパン株式会社 (Bruker Japan K.K.)
学内学外とも共用
AFT 5000
干渉式膜厚計 (Spectroscopic reflectometer)
広島大学
ナノメトリクスジャパン (Nanometrics Inc)
学内学外とも共用
Dektak XT-E
表面段差計 (Profilometer)
広島大学
BRUKER (BRUKER)
学内学外とも共用
Dektak8
触針式表面形状測定器 (Stylus-type surface shape measuring system)
香川大学
アルバック (ULVAC)
学内学外とも共用
NT91001A-in motion
白色干渉式非接触三次元形状測定器 (White light interference type non-contact three-dimensional shape measuring system)
香川大学
ブルカー・エイエックスエス (Bruker)
学内学外とも共用
Spectra-Physics
表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system)
九州大学
東京インスツルメンツ?(Tokyo Instruments )
学内学外とも共用
ELSZ-2
ゼータ電位・粒径・分子量測定装置群 (Zeta-potential and particle analyzer system)
九州大学
大塚電子 (Otsuka Electronics)
学内学外とも共用
NH-3SP
非接触三次元測定装置
分子科学研究所
装置開発室
三鷹光器
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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