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名称 機関 メーカー 共用範囲
JEM-1400
有機材料ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (Bio-TEM)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM1250
原子直視型超高圧電子顕微鏡 (Ultra-high voltage electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-4010
高分解能透過型分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
SPA400+SPI4000
小型原子間力顕微鏡 (Atomin Force Microscope (AFM))
東京大学
日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
学内学外とも共用
L-trace II
走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JIB-4600F
集束イオン/電子ビーム 複合ビーム加工観察装置 (Focused Ion Beam System)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
XVision200TB
CADデータ連動3次元機能融合デバイス評価用前処理システム (Preprocessing system for device evaluation that integrates 3D functions linked with CAD data)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JEOL SM-090010JEOL SM-090020
クロスセクションポリッシャー(CP) (Cross Section Polisher)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
EM09100IS
イオンスライサー (Ion slicer)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
IB09060CIS
クライオイオンスライサー (Cryo-Ion slicer)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
EM UC7
ウルトラミクロトーム (Ultramicrotome)
東京大学
ライカバイオシステムズ? (Leica Microsystems K.K.)
学内学外とも共用
Model 1040
TEM試料調製システム_ナノミル (NanoMill system)
東京大学
フィッショネ (E.A. Fischione Instruments, Inc)
学内学外とも共用
IB15930CP
クロスセクションポリッシャー (Cross Section Polisher)
東京大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
CADE-4T
カーボンコーター (Carbon coater )
東京大学
明和フォーシス (Meiwafosis )
学内学外とも共用
PECS
電子線顕微鏡観察用コーター (Coater for SEM analysis)
東京大学
Gatan
学内学外とも共用
VHX-7000
デジタル顕微鏡 (Degital microscope)
東京工業大学
キーエンス
学内学外とも共用
S5200
走査型電子顕微鏡 (scanning electron microscope)
東京工業大学
日立
学内学外とも共用
S4500
走査型電子顕微鏡 (scanning electron microscope)
東京工業大学
日立
学内学外とも共用
VHX-D510
低真空SEM (SEM at low vacuum)
東京工業大学
キーエンス
学内学外とも共用
JIB-4501
FIB-SEMデュアルビーム加工観察装置 (FIB-SEM Dual Beam System)
東京工業大学
日本電子
学内学外とも共用
LSM710
共焦点蛍光顕微鏡システム (Confocal Laser Scanning Fluorescence Microscope)
電気通信大学
Carl Zweiss (Carl Zweiss)
学内学外とも共用
S-4300
走査型電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope)
電気通信大学
日立 (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JEM-2100F
透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
電気通信大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
FLUOVIEW FV3000
共焦点レーザー走査型顕微鏡
早稲田大学
株式会社 エビデント (EVIDENT)
学内学外とも共用
S-4800
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
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〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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