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名称 機関 メーカー 共用範囲
SPM-9700
走査プローブ顕微鏡SPM_2[SPM-9600/9700] (Scanning Probe Microscope 2〔SPM2, SPM-9600/9700〕)
産業技術総合研究所
島津製作所 (SHIMADZU)
学内学外とも共用
SFT_3500
ナノサーチ顕微鏡SPM_3[SFT-3500] (Scanning Probe Microscope 3〔SPM3, SFT-3500, Nano Search Microscope〕)
産業技術総合研究所
島津製作所 (SHIMADZU)
学内学外とも共用
N-6000SS
ナノプローバ[N-6000SS] (NanoProber〔N-6000SS〕)
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
(1) RSPM1:JSPM5400、(2) RSPM2:E-SWEEP/S-Image
リアル表面プローブ顕微鏡(RSPM) (Real Surface Probe Microscope (RSPM) )
産業技術総合研究所
(1) RSPM1: 日本電子、(2) RSPM2: SII(現・日立ハイテクサイエンス)
学内学外とも共用
IM4000
クロスセクションポリッシャー(ALD付帯) (Cross Section Polisher)
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
3-IBE
アルゴンミリング装置 (Argon Ion Milling System)
産業技術総合研究所
伯東 (Hakuto)
学内学外とも共用
FB-2100
集束イオンビーム加工観察装置(FIB) (Focused Ion Beam System(FIB))
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
・検出器:産総研自主開発 ・顕微鏡:HITACHI S-4500
超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡 (SC-SEM) (Scanning Electron Microscope with a Superconducting Tunnel Junction X-ray Detector (SC-SEM))
産業技術総合研究所
・検出器:産総研自主開発 ・顕微鏡:日立 (・Detector: AIST Original ・SEM: HITACHI )
学内学外とも共用
JSM-7500FA
低損傷走査型分析電子顕微鏡 (Low Damage Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7800F Prime
高分解能走査型分析電子顕微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7000F
高分解能走査型電子顕微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-6510LA
低真空走査型電子顕微鏡 (Low-vacuum Scannning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
TM-3030Plus
簡易電子顕微鏡 (Tabletop SEM)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Regulus 8230
高精細電子顕微鏡 (Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope (SEM))
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JSM-6610LV Oxford X-max50 + Energy 250
電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope (SEM))
東京大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200CF
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (Low-voltage atomic-resolution Scanning Transmision Electron Microscopy)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM) (Light elements visible ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM) (Ultra-high-resolution transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡 (Environmental-adapted ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Thermal FE STEM
原子分解能元素マッピング構造解析装置 ( Atomic resolution element mapping structure analyzer)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2800
ハイスループット電子顕微鏡 (High Throughput Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2010F
高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2000EX
高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡 (Top-entry Transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2010HC
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2100F
クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 (Cryo-TEM/STEM)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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