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名称 機関 メーカー 共用範囲
Model1040, PIPSII, IB-09020CP, Leica EM UC7
試料作製装置群 (Specimen preparation apparatus group)
名古屋大学
E.A. Fischione Instruments, Gatan, 日本電子, ライカ マイクロシステムズ
学内学外とも共用
SM-09010
SEM用断面試料作製装置 (Cross section polisher)
名古屋大学
JEOL (JEOL)
学内学外とも共用
OPTELICS HYBRID C3
白色共焦点顕微鏡
名古屋工業大学
産学官金連携機構
レーザーテック
学内学外とも共用
LSM880
共焦点レーザー顕微鏡
名古屋工業大学
産学官金連携機構
CarlZeiss
学内のみ
FV1200MPE-M-MKM
多光子励起レーザ走査型顕微鏡
名古屋工業大学
産学官金連携機構
オリンパス
学内のみ
JSM-IT200LA
走査電子顕微鏡(W-SEM)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
JSM-7001F
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
JSM-7800F
低加速電圧型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡(L-FE-SEM)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
JSM-6010LA
走査型電子顕微鏡
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内のみ
JSM5600+特型試料ステージ
特型走査電子顕微鏡装置 (Scanning Electron Microscope)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
S-4700
走査電子顕微鏡
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日立ハイテク
学内学外とも共用
JEM-2100Plus
透過型電子顕微鏡(TEM)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
JEM-2100F
電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
JEM-z2500
透過型電子顕微鏡(3D-TEM)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
JEM-1400Plus
透過型電子顕微鏡(TEM)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
JEM-2100
透過型電子顕微鏡
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
原子分解能分析電子顕微鏡(FE-TEM)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
SPM-9700
走査型プローブ顕微鏡(SPM)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
島津製作所
学内学外とも共用
JSPM-5200TM
精密形状測定・局所磁気測定・局所電気特性評価装置 (Scanning Probe Microscope for Morphological, Magnetic and Electrical Characterization)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
PIPS2 Model 695
精密イオンポリシングシステム
名古屋工業大学
産学官金連携機構
Gatan
学内学外とも共用
Model 656
ディンプルグラインダー
名古屋工業大学
産学官金連携機構
Gatan
学内学外とも共用
Leica EM UC7, FC7
ウルトラミクロトーム
名古屋工業大学
産学官金連携機構
ライカマイクロシステムズ
学内学外とも共用
JFD-Ⅱ(EM-19500)
凍結試料作製装置
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
JEE-420T
真空蒸着装置
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内のみ
JEC-3000FC
オートファインコーター
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内のみ
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〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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