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名称 機関 メーカー 共用範囲
SU8000
電界放出型走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
信州大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JEM-2100F
ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡 (Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM))
信州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
HD-2300A
走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
信州大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F NEOARM
原子分解能分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope )
信州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JIB-4610F
複合ビーム加工観察装置 (Dual beam analysis system )
信州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Xradia 620 Versa
高分解能3次元X線顕微鏡 (3D X-ray Microscope)
信州大学
ツァイス (Zeiss)
学内学外とも共用
inVa Reflex
レーザラマン分光装置 (Laser Raman Spectrometer)
信州大学
レニショー (RENISHAW)
学内学外とも共用
JAMP-9510
オージェ電子顕微鏡 (Auger electron microscope)
信州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Quantera II
光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscopy)
信州大学
アルバックファイ (Ulvac Phi)
学内学外とも共用
JXA-iHP200F
リモート対応型電子線マイクロアナライザー (Remote-controlled electron probe microanalyzer)
信州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
TOF.SIMS5-ADSD-100
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time of flight secondary ion mass spectroscopy)
信州大学
TOF.SIMS5-ADSD-100 (ION-TOF)
学内学外とも共用
SmartLab 9K
試料水平型強力X線回析装置 (X-ray diffractometer)
信州大学
リガク (Rigaku)
学内学外とも共用
TI-950
ナノインデンター (Nanoindenter)
信州大学
ハイジトロン (Hysitron)
学内学外とも共用
A1Rsi-N
共焦点レーザ顕微鏡 (Confocal laser microscope)
名古屋大学
ニコン (Nikon)
学内学外とも共用
VK-9700
デジタルマイクロスコープ (Digital microscope)
名古屋大学
KEYENCE (KEYENCE)
学内学外とも共用
VK-9510
デジタルマイクロスコープ (Digital microscope)
名古屋大学
KEYENCE (KEYENCE)
学内学外とも共用
JSM-7500F
走査型電子顕微 (SEM) (Scanning Electron Microscope (SEM))
名古屋大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JSM-6301F
走査型電子顕微鏡 (Scanning electron microscope)
名古屋大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-1000K RS
反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡システム (Reaction science high-voltage scanning transmission electron microscope (RS-HVSTEM))
名古屋大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold
高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム (Ultra high resolution analytical scanning transmission electron microscope (ARM Cold))
名古屋大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100F/HK
高分解能透過電子顕微鏡システム (High resolution analytical scanning transmission electron microscope)
名古屋大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Dimension3100
原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope)
名古屋大学
Bruker AXS (Bruker AXS)
学内学外とも共用
MI4000L
直交型高速加工観察分析装置 (High performance focused ion beam system (FIB-SEM))
名古屋大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
ETHOS NX5000
バイオ/無機材料用高速FIB-SEMシステム (High performance focused ion beam system (FIB-SEM))
名古屋大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Model1040, PIPSII, IB-09020CP, Leica EM UC7
試料作製装置群 (Specimen preparation apparatus group)
名古屋大学
E.A. Fischione Instruments, Gatan, 日本電子, ライカ マイクロシステムズ
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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