| 設置機関 | 奈良先端科学技術大学院大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-3100FEF |
| 設備名称 | 300kV透過電子顕微鏡 (300kV Transmission Electron Microscope (TEM)) |
| 装置スペック | ・加速電圧: 300kV ・倍率: 100~2,000,000倍(分解能:0.19nm) ・オプション: クライオシステム 高温観察システム 動画観察システム トモグラフィ,三次元再構成システム 電子エネルギー損失分光 |
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