| 設置機関 | 京都大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F |
| 設備名称 | モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡 (Monochromated atomic resolution analytical electron microscope) |
| 装置スペック | 照射系と結像系に球面収差補正装置を搭載し、電子銃にはモノクロメータが組み込まれた高エネルギー分解能原子直視型分析電子顕微鏡。分析機能はEELSとEDSを装備。 ・加速電圧:200kV、60kV ・電子銃:ショットキー型 ・TEM分解能:0.1nm ・STEM分解能:0.08nm ・エネルギー分解能:0.03eV ・分析機能:EELS、EDS |
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