| 設置機関 | 京都大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2200FS |
| 設備名称 | 球面収差補正透過電子顕微鏡 (Spherical-aberration-corected transmission electron microscope) |
| 装置スペック | 結像系の球面収差補正装置とインカラム型オメガフィルターを搭載した高分解能分析電子顕微鏡。 ・加速電圧:200kV ・電子銃:ショットキー型 ・TEM分解能:0.2nm ・エネルギー分解能:0.8eV ・分析機能:EELS |
掲載内容に不備がある場合、情報が古い場合などはこちらから修正の報告をお願いします。