| 設置機関 | 京都大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2100F(G5) |
| 設備名称 | 極低温透過電子顕微鏡 (Ultralow-temperature high-resolution transmission electron microscope) |
| 装置スペック | 液体ヘリウム冷却ステージを内蔵したクライオ電顕。溶液内のナノ集合体や有機材料の照射損傷を低減した観察が可能。クライオトランスファー機構装備。 ・加速電圧:200kV ・電子銃:ショットキー型 ・TEM分解能:0.2nm ・冷却温度:4.2K |
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