| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 試料加工装置 |
| 製造元 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | IB09060CIS |
| 設備名称 | クライオイオンスライサー (Cryo-Ion slicer) |
| 装置スペック | □主な特長 ・熱ダメージを受けやすい試料の断面作製が可能 □主な仕様 ・液体窒素冷却 ・最大試料サイズ:2.8mmL×1.0mmW×0.1mmT ・イオン加速電圧:1~8kV ・ミリングスピード:5μm/min(8kV,Si換算) □主な用途 ・電子顕微鏡用試料作成 |
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