| 設置機関 | 物質・材料研究機構 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL ) |
| 型番 | JEM-ARM300F |
| 設備名称 | 300kV収差補正電子顕微鏡 (Analytical apparatus for electron beam sensitive materials) |
| 装置スペック | ・加速電圧 60, 80, 300kV ・TEM非線形情報限界 60pm ・TEM格子分解能 50pm ・STEM空間分解能 58pm ・CMOSカメラ 動画撮影機能搭載 ・デュアルEDS検出器 合計立体角1.2Sr ・EELS エネルギー分解能0.7eV |
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