| 設置機関 | 物質・材料研究機構 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM300F |
| 設備名称 | 広空間・高分解能分析電子顕微鏡 (Analytical transmission electron microscope) |
| 装置スペック | 金属・セラミックス試料の組成,化学状態,結晶方位等の局所分析およびマップ取得が可能. ・加速電圧:300kV, 200kV, 120kV, 80kV ・球面収差補正(イメージおよびプローブのダブルコレクタ) ・大口径EDS検出器(158mm2 x 2本) ・エネルギーフィルター(Gatan ContinuumER) ・プリセッション電子回折を用いた結晶方位測定システム(ASTAR) |
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